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15J

彼爱姆(BM) 测量显微镜 15J

品牌名称:彼爱姆

产品型号:15J

产品规格
产品介绍
15J测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:
1.直角坐标中测定长度,例如测定孔距、基面距离、刻线距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径等等。
2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
3.用作观察,以比较法检查工作表面粗糙度,鉴定冶金工业的矿石标本,检定印刷照相制版,检验纺织纤维等等。
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产品详情

用途

15J测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:

1.直角坐标中测定长度,例如测定孔距、基面距离、刻线距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径等等。

2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。

3.用作观察,以比较法检查工作表面粗糙度,鉴定冶金工业的矿石标本,检定印刷照相制版,检验纺织纤维等等。

 

技术规格

1.光学系统规格

目 镜

显微镜
  放大倍数

工作距离 (mm)

视场直径(mm)

放大倍数

焦距 (mm)

放大倍数

焦距 (mm)

2.5X/0.08

43.40

10X

25.00

25X

58.84

5.6

10X/0.25

17.13

100X

7.81

1.4

2.测量工作台读数装置主要规格

X轴移动测量范围:50mm

Y轴移动测量范围:13mm

测微器分度值:0.01mm

测量台转动范围:不限

测量台刻度盘分度范围:0°~360°

测量台刻度盘之分度值:1°

测量台刻度盘游读数示值:6′

3.测量精度:

仪器示值误差:±(4+L/15 )um

仪器示值误差:包括测量误差与仪器系统误差。

注:测量地点温度变化(20±3)℃

  L-被测件长度(mm)

4.仪器之主要尺寸:

测量台与物镜间之最大距离:80mm

测量工作台直径:120mm

 

仪器成套性

名称

单位

数量

1

主机

1

2

物镜2.5×

1

3

物镜10×

1

4

产品使用说明书

1

5

产品合格证明

1

6

产品保修卡

1


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