EXFO(爱科斯福) 无源光器件测试平台 CTP10

主要优点

1、扫频测量插损（IL）、偏振相关损耗（PDL）或回损（RL）；

2、业内率先支持全波段PDL测量，覆盖从1260 nm到1620 nm的波长；

3、以100 nm/s的速度进行单次扫描，动态范围>70 dB，精度为±5 pm，分辨率为1 pm；

4、配备强大的图形用户界面（GUI），内置先进的分析功能；

5、通过SCPI命令实现全自动化操作；

6、采用可扩展的架构，适用于研发和制造环境。

应用

1、PIC晶圆级测试；

2、制造和研发环境中的多输入无源光器件测试；

3、WSS和ROADM校准与测试；

4、薄膜滤波器（TFF）鉴定。

描述

CTP10是一种模块化测量平台，可高效地全天候测试无源器件。通过它，您能够以前所未有的动态范围、速度和分辨率执行插损（IL）、偏振相关损耗（PDL）或回损（RL）测量。CTP10是测量高速WDM网络中的新型大端口数光器件和和光子集成电路（PIC）的理想设备。它可以结合T100S-HP系列扫频可调谐激光器，在几秒钟内完成IL-RL或IL-PDL测量。 

下一代平台和模块

CTP10平台可安装多达10个热插拔模块，包括用于光谱鉴定的各种关键模块（IL-RL OPM2或IL-PDL模块）、波长控制模块（SCAN SYNC和FBC模块）以及检测模块（OPMx模块）。这些完全集成的模块可以热插拔，从而大大减少设置时间，并提供一个非常灵活、不断发展的测试解决方案。

CTP10内置操作系统，可处理大量的数据。它还提供一个可扩展的架构，由最多8个测试站共享一个或多个可调谐激光器，并添加一个辅助主机，以测试100多个端口。

性能强劲

CTP10可进行非常迅速的扫频IL RL或PDL光谱测量。它提供不折不扣的高性能，并在全速测试时达到一流的规格要求。OPMx免测距系列光检测器能够以100 nm/s的速率、1 pm的分辨率进行扫描，测量的动态范围超过70 dB，从而大幅提高制造和研发能力。OPMx检测器还可以精确测量高达10 dB/pm（10000 dB/nm）的清晰光谱特征，使CTP10成为未来测量波长可选择开关（WSS）或环形谐振器等下一代器件的可靠工具。

GUI强大直观

CTP10围绕三个关键原则被开发出来：集成、性能和自动化。其内置软件提供强大、直观的GUI，从而简化测试配置和测量过程。CTP10可无缝地控制外接可调谐激光器，让您专注于真正重要的事情：测量和分析数据。GUI集成了一整套工具以分析通带（如WDM或WSS）和阻带滤波器。