产品特点
宽广的温度范围,从 -100°C 到 500°C
无须更换检测器或炉体, LFA467 HyperFlash在同一台仪器上可实现 -100°C 到 500°C 的宽广温度范围。加上种类丰富的可选配件,开创了热物性测量的新天地。
进样器附有 16 个样品位,样品容纳量为原来的 4 倍
LFA 467 HyperFlash 的一大优势是可以在整个温度范围内连续测量 16 个样品,大大缩短了测量时间。液氮补给系统可以实现对检测器与炉体的自动补充液氮,保证仪器全天候不间断测量。
ZoomOptics 得到的测量结果更准确,减少测量误差
专利技术的 ZoomOptics(DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03)优化了检测器的检测范围,从而消除了孔径光阑的影响。显著增加了测量结果的精度。
极高的采样频率(2MHz),特别适合于薄膜样品
薄膜样品及高导热材料需要快速的数据采集速率,来精确地记录样品上表面的升温过程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的数据采集速率,这是 LFA 系统的一次重大升级。
技术参数
温度范围:-100°C ... 500°C,单一炉体
非接触式测量,IR 检测器检测样品上表面升温过程
数据采集速率:高达 2MHz(包括半升温信号检测,及 pulse mapping 技术)
热扩散系数测量范围:0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
导热系数测量范围:< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
样品尺寸:
- 直径 6 mm ... 25.4 mm(包括方形样品)
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm(样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能)
16 个样品位的自动进样器
20 多种支架类型
丰富的测量模式,适应各种类型的样品。如各向异性材料,多层模式分析,薄膜,纤维,液体,膏状物,粉末,熔融金属,压力下的测试,等等。
Zoom Optics 优化检测器的检测范围(专利号:DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03)
专利保护的 pulse mapping 技术(专利号:US7038209 B2; US20040079886; DE10242741),用于脉冲宽度修正,可以提高比热值的测量精度
气氛:惰性、氧化性、静态/动态、负压
遵从如下标准: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.