蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验于一体，助您轻松实现构建成像和分析程序，同时提高工作效率。您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或研究生物和地质样本。Sigma可实现高分辨率成像，它采用低电压，能在1 kV或更低电压下实现更高的分辨率和对比度。它出色的EDS几何学设计可执行高级显微分析，以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。
使用Sigma系列，畅游高端纳米分析世界。
Sigma 360是一款直观的成像和分析FE-SEM，是分析测试平台的理想之选。
Sigma 560采用先进的EDS几何学设计，可提供高通量分析，实现自动原位实验。
此资料适用于以下型号
| Sigma 360 | Sigma 560 |