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英文产品资料-台湾chroma 3112 晶片测试分类机

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来源:宜器服务网 | 下载次数:0次 | 资料大小:316.21 KB | 所需积分:0 分 | 上传日期: 2024-01-05 | 浏览次数:

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Chrom 3112具备单头与多头之适合量产的PnP自动化芯片测试分类机,可藉由治具变更处理各种不同尺寸规格之芯片测试与分类。此设备透过PnP方式将芯片自芯片盘加载至测试站中,精确的测试后依据测试结果稳定的放置于分类盘中。其高效率的模块化设计与精准的机构传动结构可确保在高速运作下减少Jam Rat的量产要求,多重检查功能

装置可降低待测物发生异常的损坏。

芯片测试运用此自动化测试分类技术不仅能提升生产效率、减少人力需求,同时也增加了测试稳定度及测试良率。此外,其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积,帮助客户大幅降低生产成本。

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