3110-FT支持多种芯片测试，可支持的芯片尺寸从3x3mm到45x45mm。亦可加选远程监控功能，操作者得以在任何地点透过网络操作以增加设备使用率。3110-FT三温测试分类机同时包含预温区，可改善测试时间及产出；配有2个自动分料盘及2个手动分料盘，在仅1.4m²的空间发挥最佳的IC分料能力以节省成本与时间。
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