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产品画册-日本日立(牛津仪器)手持式镀层测厚仪 CMI165

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来源:宜器服务网 | 下载次数:2次 | 资料大小:7.02 MB | 所需积分:0 分 | 上传日期: 2023-02-21 | 浏览次数:

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温度会影响对铜样品的准确测量。我们的CM165®可对温度实施补偿,在不考虑铜温度的前提下获得准确的检验结果。这是对如下流程实施质保和检验的理想工具:
PCB制造和装配。
面铜厚度

我们的CMI165仪表具备通用性和便携性。该产品配备有保护罩,其耐用性设计可应对最为严苛的工作环境。CMI165是如下方面的理想之选:
测量冷热PCB上的铜。
无需取样,减少浪费。
测量铜箔或覆铜板上的铜厚度(以微米、密耳或盎司为单位)
在进货检验期间按重量排序铜,之后再实施钻孔、剪断或电镀处理。
在实施蚀刻或平坦化处理之后量化铜厚度。
确认PCB面铜厚度。
在不使用标准片的情况下测量最薄蚀刻铜箔厚度达204微米。

手持式镀层测厚仪 CMI165

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