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日立 手持式镀层测厚仪 CMI760 - 产品资料

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来源:宜器服务网 | 下载次数:1次 | 资料大小:1.54 MB | 所需积分:0 分 | 上传日期: 2023-02-21 | 浏览次数:

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CMI760接受多种探针类型,可满足几乎任何PCB应用,包括表面铜和孔铜应用。
我们的CMI760标配SRP-4探头,并采用先进的统计软件显示测试数据。该仪器具备高度可扩展性,能够实施微电阻和涡电流测试,以准确地高精度测量铜厚。我们提供选购的附件来测量孔铜厚度。

手持式镀层测厚仪 CMI760

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