OE系列采用最先进的半导体探测器和新型光学概念（专利申请中）。这使得日立的OES光谱仪在同类产品中具有最高光学分辨率，因此您不必在高性能和低成本之间作出选择。
动态CMOS检测器的创新使用以及将光学系统直接接合至火花台可确保最佳照度以及174nm至670*nm(OE720)和119nm至670'nm(OE750)的波长范围。这包括从氢到轴的所有元素，用于全元素分析*“。这种性能通常只适用于高端质量控制仪器，但OE系列可通过创新、低氩和低功耗降低成本。
OE系列在元素选择上具有极大的灵活性，能使操作适合未来需要。
此资料适用于以下型号：OE720/OE750
