FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD是Fischer产品组合中最强大的X射线荧光仪器之一。这台XRF光谱仪配备了高分辨率和强大的硅漂移探测器 (SDD) ，其有效面积为 50 mm² 。这使您可以精确地、无损地测量最薄的涂层--例如，引线框架上约 2nm 厚的金镀层。
结合内部开发的新数字脉冲处理器DPP+，您可以将您的测量性能提高到一个新的水平。现在可以处理更高的计数率，从而缩短测量时间或提高测量结果的重复性。同时，XDV-SDD完全适用于非破坏性的材料分析。例如，它对塑料中的微量铅的检测灵敏度约为2ppm - 比RoHS或CPSIA中要求的数值低几个数量级。
为了给每个XRF涂层厚度测量创造理想的条件，XDV-SDD有可切换的准直器和初级滤波器，可以工作在科学的状态下。这款极其坚固的设备，有直观的控制面板，通过操纵杆和按钮，很容易操作，专为工业用途的连续测试而设计。
