苏州联讯 光模块测试一体机 ATE8108/ATE8104

产品介绍

ATE一体机测试系统，结合光模块的各种测试用例，将各子功能模块按照功能需求比例结合起来，用户可以根据实际的测试需求优化配置，灵活搭配，提高光模块测试仪表的利用率，有效降低测试成本。

系统集成的软件封装了光模块测试中的各种参数，用户可以采用搭积木的方式，迅速完成测试系统的搭建，加速新产品量产导入。

整个系统采用多路并行测试，软硬结合，充分发挥仪表及软件的功能，大幅提高单位产品的测试效率。

主要特点

光仪表插卡式集成

各功能模块封装成插卡式模块，支持用户灵活优化硬件配置；

软件平台化

软件高度封装，软件各子功能模块可以任意调用，随意组合；

多通道并行测试

提高通道数量，并行测试，极大的提高测试效率；

集成TEC温度控制系统

支持模块-40℃~90℃温度循环测试。

功能与优势

插卡式光仪表

集成常用光仪表光功率计/光开关/光衰/光CDR集成常用无源器件 MUX/DEMUX/Splitter 灵活配置

集成温循测试系统

基于TEC的温控系统

支持-10~85℃温度范围

平台化软件系统

子功能模块化

支持拖拽操作

功能单元标准化

减少重复开发

支持二次开发

软件报表自动生

合格率分析

直通率分析

不良原因统计分析

物料消耗数量统计

人员工时统计分析

报表定时推送

技术规格

各功能模块封装成插卡式模块，支持用户灵活优化硬件配置 ；

PC 机通过 PCI 总线接口卡控制和管理测试主机；

测试主机采用 19 寸标准机柜，17个slot支持不同硬件模块；

硬件高度集成，提高设备的稳定性和连接的便利性；

软件高度封装，软件各子功能模块可以任意调用，随意组合；

多通道并行测试，提高通道数量，并行测试，极大的提高测试效率；

集成TEC 温度控制系统，支持模块-40℃~90℃温度循环测试；

支持多路：100G QSFP, 200G QDD, 400G QDD模块并行测试。