产品介绍
联讯仪器 CoC老化系统BI6201 是高密度、多功能、专门针对半导体激光器芯片老化寿命验证的测试系统。
主要特点
SMU驱动电源
支持最高4224路4象限SMU驱动电源;
支持LIV/EA扫描
在线功率监测,支持完整的 LIV、EA扫描;
具备分析能力
具备Ith、DCER分析能力,测试重复性偏差<1%;
最大单系统
单系统最大支持4224pcs同时老化,可根据要求及系统能力扩展。
功能与优势
特殊的温度控制结构,具有极佳的导热特性
CoC、CoS 抽屉及夹具
支持自动电流控制、自动功率控制,安全可靠
带在线监测功率的 CoC、CoS 抽屉及夹具(支持 LIV 扫描及功率测量)
技术规格
系统指标 | 芯片封装类型 | CoC/CoS或者TO-CAN各种类型 |
夹具类型 | 标准支持48pcs CoC鱼骨型测试夹具其他不同类型可以定制化开发 | |
系统容量 | 11层;44个抽屉,标准系统支持88个CoC鱼骨型夹具,总计支持4224个通道 | |
氮气保护 | 可以集成氮气保护功能选件 | |
供电 | AC 380V, 50/60Hz 32A | |
气压 | 0.4-0.6Mpa | |
重量 | <1000Kg | |
尺寸 | 984*1102*2030mm |