产品介绍
BI4201-PD APD TO老化系统能够提供高温条件的下APD/PIN带电老化系统。同时兼容APD TO和PIN TO的老化模式,广泛用于APD/PIN TO的生产老化环节以及产品可靠性测试。
主要特点
独立老化不同产品
每个温区可以独立老化不同产品;
监控老化
监控老化电流,Vbr电压,TIA电流;
测试功能
支持老化前后的暗电流和Vbr测试功能;
模式切换
支持恒流和恒压的老化模式切换;
封装形式
兼容APD TO、单APD 、PIN TIA TO、单PIN的封装,以及COC和COB封装形式;
TO老化
每个温区支持1536颗TO的老化,共支持3072颗TO的老化。
功能与优势
界面简洁易操作
老化软件界面 APD 器件图形监控界面
支持测试条件,测试算法,测试流程,测试结果判断标准编辑;支持权限管控。支持金样测试监控。支持机台名称监控。
技术规格
系统功能 | 外形尺寸(mm) | 1700L*950W*2000H |
支持夹具类型 | 标准8X8夹具 | |
系统支持TO数量 | 3072个 | |
系统温区 | 独立两个温区 | |
LD TO老化 | LD老化,MPD监测,LIV扫描 | |
监控参数 | 恒流模式下:提供老化电流,回读老化电流,采样电压; 恒压模式下:提供老化电压,回读老化电压,采样电流; | |
管脚切换 | 支持不同器件软件管脚定义切换 | |
MES系统接口 | 支持定制开发对接客户的MES系统和数据库 | |
数据保存 | 测试原始数据、计算结果、系统运行详细日志的保存 | |
系统供电 | 380V,11KW(满载) | |
温度控制 | 温度范围 | 常温到180℃ |