产品介绍
APD TO 器件测试系统TO6201-PD 是专门针对APD TO-CAN封装器件常温和高温性能的测试机。
主要特点
兼容常规
兼容常规TO-CAN器件老化子板夹具;
暗电流测试
支持Vbr和暗电流测试;
响应度测试
支持多波长下的响应度测试;
支持nA
支持 nA 级别光电探测器暗电流测试;
温度范围广
室温,50~100°C;
无EOS
无EOS。
技术规格
系统指标 | 被测器件类型 | 所有TO-CAN封装器件 |
夹具类型 | 标准8X8夹具 | |
测试机台控制 | 软件支持测试机台管控功能,如果相同夹具在老化前后分别在不同的测试机台进行测试,软件会自动产生告警提示。 | |
测试配置管控 | 软件支持测试配置管控,包括测试仪表,测试算法,测试序列,测试结果判断等。 | |
测试数据 | 支持用户要求的所有测试数据/支持MES相关的需求 |