产品介绍
联讯仪器 sCT9001 全自动硅光晶圆测试机,具有测试精度高、测试稳定性好以及灵活的可扩展性,适用于实验室验证与量产测试。
主要特点
自动/半自动
支持全自动与半自动方式上下晶圆片;
晶圆尺寸
支持8寸与6寸晶圆;
测试温度
支持测试温度范围室温~150℃(其它温度可定制);
测试功能
支持光光测试,光电测试,电电参数测试;
DC/AC
支持DC与AC测试;
光栅耦合
支持光栅垂直耦合;
高效率
针对不同类型芯片,支持快速更换不同类型针卡;
软件功能
软件支持增加客户数据库与MES功能。
功能与优势
高精度探针台
•晶圆上料模式支持全自动模式与半自动模式作业,适用于实验室验证与大规模量产使用;
•全闭环高精度运动控制系统,自动精度补偿,定位精度高达3um;
•特殊机构设计与校准系统确保晶圆片在Chuck上具有更高的平面度与探针Z方向的垂直度;
•配置高清变倍CCD,加电PAD清晰可见,且能同时显示低倍与高倍多视野画面。
•内置一体化防震设计,且可隔离外部震动,确保良好的测试稳定性;
耦合测试模组:
•耦合测试模组包含耦合光探针、DC直流探针与RF射频探针;
•光探针支持单路耦合与双路耦合;
•光探针带有高精度测高仪,确保不同芯片间入射光纤端面到芯片表面高度的一致性;
•光纤耦合模组由三维丝杠电机配合三维高精度压电陶瓷模组组成,确保光路耦合效率与耦合重复性;
•采用标准高精度耦合控制器,全闭环控制+硬件同步,提高耦合精度与耦合速度;
•探针卡固定座的设计更加方便探针卡的更换,便于不同产品或不同测试项目实现快速更换探针卡;
技术规格
测试参数 | |||
参数类型 | 测试参数 | 参数指标 | 定义 |
O/O | Waveguide Loss | dB/cm | 波导传输损坏 |
Coupling Strength | % | 耦合效率,DUT接收到的光功率与入射光功率的比值 | |
O/E | PD Responsivity | A/W | PD响应度,PD探测器将接收到的光转换成电流的效率 |
Modulator ER | dB | 静态消光比,调制器在不同偏置电压下吸收后光功率的最大值与最小值的比值 | |
E/E | PD Dark Current | nA | PD暗电流,在无光条件下对PD增加偏置电压测得的反馈电流 |
Heat Resistance | Ω | 热阻抗 | |
Modulator Resistance | Ω | 调制器电阻 | |
系统测试指标 | |||
序号 | 规格 | 指标 | |
支持晶圆尺寸 | 4寸~8寸 | ||
温度范围 | RT~150℃ | ||
温度均匀性 | <±0.5℃ | ||
25℃~150℃ | <15 mins | ||
150℃~25℃ | <20 mins | ||
上下料方式 | 自动与手动 | ||
测试类型 | DC测试,可升级支持AC | ||
测试项目 | O/O,O/E,E/E | ||
Wafer Map功能 | 可编辑且自动生成Map,且显示每个Die坐标 | ||
分Bin功能 | 支持分Bin,多种颜色区别测试结果,且显示不同颜色数量与比例 | ||
自动清针功能 | 支持 | ||
CCD自动聚焦功能 | 支持 | ||
相机监控画面 | 支持低倍与高倍画面多视野 | ||
EMI屏蔽 | >20dB @1KHz-1MHz | ||
光谱噪声基底 | ≦150dBVrms/rtHz(≦1MHz) | ||
系统AC噪声 | ≦15mVp-p(≦1GHz) |