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sCT9001

苏州联讯 硅光晶圆测试机 sCT9001

品牌名称:苏州联讯

产品型号:sCT9001

产品规格
产品介绍
联讯仪器 sCT9001 全自动硅光晶圆测试机,具有测试精度高、测试稳定性好以及灵活的可扩展性,适用于实验室验证与量产测试。
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产品介绍

联讯仪器 sCT9001 全自动硅光晶圆测试机,具有测试精度高、测试稳定性好以及灵活的可扩展性,适用于实验室验证与量产测试。

 

主要特点

自动/半自动

支持全自动与半自动方式上下晶圆片;

晶圆尺寸

支持8寸与6寸晶圆;

测试温度

支持测试温度范围室温~150℃(其它温度可定制);

测试功能

支持光光测试,光电测试,电电参数测试;

DC/AC

支持DC与AC测试;

光栅耦合

支持光栅垂直耦合;

高效率

针对不同类型芯片,支持快速更换不同类型针卡;

软件功能

软件支持增加客户数据库与MES功能。

 

功能与优势

高精度探针台

探针台.jpg

•晶圆上料模式支持全自动模式与半自动模式作业,适用于实验室验证与大规模量产使用;

•全闭环高精度运动控制系统,自动精度补偿,定位精度高达3um;

•特殊机构设计与校准系统确保晶圆片在Chuck上具有更高的平面度与探针Z方向的垂直度;

•配置高清变倍CCD,加电PAD清晰可见,且能同时显示低倍与高倍多视野画面。

•内置一体化防震设计,且可隔离外部震动,确保良好的测试稳定性;

 

耦合测试模组:

耦合测试模组.jpg

•耦合测试模组包含耦合光探针、DC直流探针与RF射频探针;

•光探针支持单路耦合与双路耦合;

•光探针带有高精度测高仪,确保不同芯片间入射光纤端面到芯片表面高度的一致性;

•光纤耦合模组由三维丝杠电机配合三维高精度压电陶瓷模组组成,确保光路耦合效率与耦合重复性;

•采用标准高精度耦合控制器,全闭环控制+硬件同步,提高耦合精度与耦合速度;

•探针卡固定座的设计更加方便探针卡的更换,便于不同产品或不同测试项目实现快速更换探针卡;

 

技术规格

测试参数

参数类型

测试参数

参数指标

定义

O/O

Waveguide   Loss

dB/cm

波导传输损坏

Coupling   Strength

%

耦合效率,DUT接收到的光功率与入射光功率的比值

O/E

PD   Responsivity

A/W

PD响应度,PD探测器将接收到的光转换成电流的效率

Modulator   ER

dB

静态消光比,调制器在不同偏置电压下吸收后光功率的最大值与最小值的比值

E/E

PD   Dark Current

nA

PD暗电流,在无光条件下对PD增加偏置电压测得的反馈电流

Heat   Resistance

Ω

热阻抗

Modulator   Resistance

Ω

调制器电阻

系统测试指标

序号

规格

指标


支持晶圆尺寸

4寸~8寸


温度范围

RT~150℃


温度均匀性

<±0.5℃


25℃~150℃

<15   mins


150℃~25℃

<20   mins


上下料方式

自动与手动


测试类型

DC测试,可升级支持AC


测试项目

O/O,O/E,E/E


Wafer   Map功能

可编辑且自动生成Map,且显示每个Die坐标


分Bin功能

支持分Bin,多种颜色区别测试结果,且显示不同颜色数量与比例


自动清针功能

支持


CCD自动聚焦功能

支持


相机监控画面

支持低倍与高倍画面多视野


EMI屏蔽

>20dB   @1KHz-1MHz


光谱噪声基底

≦150dBVrms/rtHz(≦1MHz)


系统AC噪声

≦15mVp-p(≦1GHz)


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