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FT160
FT160

日立 台式XRF分析仪 FT160

品牌名称：日立

产品型号：FT160

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产品规格
产品介绍
用于从安全距离查看分析的大观察窗
测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 标准
IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性镀层检测
用于快速样品设置的自动特征定位
为您的应用优化的分析仪配置选择
在小于 50 µm 的特征上测量纳米级镀层
将传统仪器的分析通量提高一倍
可容纳各种形状的大型样品
专为长期生产使用的耐用设计
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日立 台式XRF分析仪 FT160 - 产品资料
6页
渠道商
深圳市乐买宜电子有限公司
地址：广东省.深圳市      获取报价
产品详情

FT160 台式XRF分析仪

FT160 台式 XRF 分析仪旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。

FT160 的多毛细管光学元件可以测量小于 50 µm 的特征上的纳米级镀层，先进的检测器技术可为您提供高精度，同时保持较短的测量时间。其他功能，例如大样品台、宽样品舱门、高清样品摄像头和坚固的观察窗，可以轻松装载不同尺寸的物品并在大型基板上找到感兴趣的区域。该分析仪易于使用，与您的 QA / QC 流程无缝集成，在问题危机发生前提醒您。

产品特点
用于从安全距离查看分析的大观察窗
测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 标准
IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性镀层检测
用于快速样品设置的自动特征定位
为您的应用优化的分析仪配置选择
在小于 50 µm 的特征上测量纳米级镀层
将传统仪器的分析通量提高一倍
可容纳各种形状的大型样品
专为长期生产使用的耐用设计

FT160 技术参数


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FT160

FT160L

FT160S

元素范围

Al   – U

Al   – U

Al   – U

探测器

硅漂移探测器 (SDD)

硅漂移探测器 (SDD)

硅漂移探测器 (SDD)

X射线管阳极

W 或 Mo

W 或 Mo

W 或 Mo

光圈

多毛细管聚焦

多毛细管聚焦

多毛细管聚焦

孔径大小

30   µm @ 90% 强度（Mo tube）

35   µm @ 90% 强度（W tube）

30   µm @ 90% 强度（Mo tube）

35   µm @ 90% 强度（W tube）

30   µm @ 90% 强度（Mo tube）

35   µm @ 90% 强度（W tube）

XY轴样品台行程

400   x 300 mm

300   x 300 mm

300   x 260 mm

最大样品尺寸

400   x 300 x 100 mm

600   x 600 x 20 mm

300   x 245 x 80 mm

样品聚焦

聚焦激光和自动聚焦

聚焦激光和自动聚焦

聚焦激光和自动聚焦

测试点识别

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软件

XRF   Controller

XRF   Controller

XRF   Controller

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