日立 台式/落地式直读光谱仪 OE系列

OE系列 台式/落地式直读光谱仪
OE系列采用最先进的半导体探测器和新型光学概念（专利申请中）。这使得日立的OES光谱仪在同类产品中具有最高光学分辨率，因此您不必在高性能和低成本之间作出选择。
动态CMOS检测器的创新使用以及将光学系统直接接合至火花台可确保最佳照度以及174nm至670*nm(OE720)和119nm至670'nm(OE750)的波长范围。这包括从氢到轴的所有元素，用于全元素分析*“。这种性能通常只适用于高端质量控制仪器，但OE系列可通过创新、低氩和低功耗降低成本。
OE系列在元素选择上具有极大的灵活性，能使操作适合未来需要。

可靠性大，停机时间短
OE系列旨在保持运行不间断。其维护时间被缩至最小；例如，只需每隔几千次测量*清理一次火花台，标准化间隔通常是几周甚至几个月。由此可实现每周节省2个小时。
此外，新开发的数字火花光源将提供更好的可靠性以及每个元素更佳的能量激发脉冲，从而提高分析的精密度。

SPARCFIRE

OE系列的现代操作软件具有最先进的用户界面，旨在满足冶金专家的要求，但足够直观，缺乏经验的用户也可操作。

牌号数据库

OE750中预先安装有市面上最大的金属牌号数据库，可快速而轻松地鉴定牌号。日立的牌号数据库能提供超过74个国家和标准中350,000多种材料的1,500多万条记录。只需几次点击，即可更新仪器的牌号数据库，无需耗费时间研究各种规范和牌号目录。

炉料校正

该软件会自动计算加入熔液中的合适材料量，使其符合规格。您不再需要依赖人员的专业知识，这大大加快了炉料校正过程。该软件还通过考虑可用的原材料和炉子容量，计算最具成本效益的熔液校正方法。

统计过程控制 (SPC)

SPC能确保轻松监控过程。如果熔体、过程或仪器超出规格，将及时发出通知。可为每个元素设置控制上限和控制下限，并查看每个元素在这些限制内的可视化表示。这意味着您可以在它们影响最终规格之前发现趋势，以减少报废和返工。此外，跟踪功能使得为客户或监管审计提供信息变得更加容易。

EXTOPE CONNECT

ExTOPE Connect 是一项高级数据管理和存储服务，它能够安全地存储结果、即时共享数据以及从任何计算机实时访问数据。它包含无限免费和安全数据存储，用户可从一个集中位置管理多个站点的仪器群。

技术参数