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FlexSEM 1000 II

日立 扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II

品牌名称:日立

产品型号:FlexSEM 1000 II

产品规格
产品介绍
“先进的SEM更为紧凑”
宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计,仍具备4.0 nm的图像分辨率。
全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。
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产品介绍

“先进的SEM更为紧凑”
宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计,仍具备4.0 nm的图像分辨率。
全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。

 

产品特点

FlexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面,具有亮度和对焦自动调节功能,可以在短时间内进行各种观察。此外,还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”,这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点,实现最直观的视野移动。

尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜,仍可实现4.0 nm的分辨率

凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器(UVD*2),可在低加速/低真空下观察时实现最高的画质

全新的用户界面,无论用户的熟练程度如何,都可实现高画质和高处理能力

全新的定位功能“SEM MAP”,支持观察时的视野搜索和样品定位

*1设置到桌面上时,请将机体与电源盒分离

*2选项

小型高性能色谱柱

尺寸虽小,却具备同类产品中最高的分辨率。

高画质

配备可优化放射电流的功能,以便在较低的加速电压下也能获得足够的亮度,而获得噪点小且清晰的图像。

可用高画质和快速观察

搭载GUI和自动调节功能,让初学者也能得心应手。只要按一下自动对焦(AFC)、自动亮度调节(ABCC)按钮,就可以获得最佳的图像。(自动调节:与以往相比,缩短时间约13秒*3)当然,也可以通过触屏进行操作。

全新定位系统“SEM MAP”

“SEM MAP”功能可有效实现观察时的视野搜索和样品定位。根据内置摄像头所拍摄的图像,定位样品,一键点击即可移动到观察部位。
在SEM MAP上导入的图像会自动进行粘贴,并以分布图的形式显示。

可放置在桌面上的紧凑型电子显微镜

宽幅仅为45厘米,紧凑型设计,最大程度地减小占用空间。机体仅支持AC100 V 3P电源插座。此外,机体和电源盒可以分离,从而大幅度提升诸如桌面设置等的布局灵活性。

 

技术参数

项目

内容

分辨率*3

4.0   nm(二次电子像、加速电压:20 kV、高真空模式)
  15.0 nm(二次电子像、加速电压:1 kV、高真空模式)
  5.0 nm(背散射电子像、加速电压:20 kV、低真空模式)

加速电压

0.3   kV~20 kV

倍率

×6~×300,000 (照片倍率)
  ×16~×800,000 (显示器显示倍率)

低真空设置

6~100 Pa

电子枪

预对中钨灯丝电子枪

样品台

3轴马达驱动样品台
  X:0~50 mm、Y:0~40 mm、Z:5~15 mm
  T:-15~90°、R:360°
  最大可观察范围:直径64mm(R联用)*4

最大样品尺寸

直径80   mm(选配:直径153mm)

最大样品高度

40   mm

尺寸

机体:450(宽度)×640(进深)×690(高度) mm
  电源盒:450(宽度)×640(进深)×450(高度) mm

选项

高敏感度低真空检测器(UVD2.0)

能量色散型X射线检测器(EDS)

软件

Multi   Zigzag(连续视野图像导入功能)

*PC、桌子、监控器由客户准备

*3机体和电源盒连接时候

*4使用标准支架时


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