日立 原子力显微镜工作站 AFM5000II／RealTune® II

产品介绍
AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面，标准配备参数自动设置功能(RealTune® II)，即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时，也能快速获得准确的测量数据。

产品特点

RealTune® II　的参数自动设置功能

独有的参数自动设置功能！
RealTune® II可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数，可以根据样品表面的形貌、扫描范围、扫描速度以及使用的悬臂的状况，高效率、高精度地调整成合适的测量条件。

通过新增加的参数自动设置功能（RealTune® II），可实现一键（One Click）测量。
原来需要专业操作才能完成的测量，现在即便是新手也可以轻松胜任。

也可用于高难度样品。

以往的方法这些样品需要对参数进行精细的调整，操作难度很高，并且柔软的纤维易变形产生皱痕。

新处理方法

自动设置成合适的条件，可在复杂的纤维结构不变形的情况下进行精准测量。

以往的方法这种样品，表面容易损坏，易产生皱痕、台阶的轮廓也不明显。

新处理方法

自动设置成合适的条件，稳定地测量分子级别上的台阶结构。

全新的图标用户界面（Graphical Use Interface）

简单的菜单设置

明了易懂的图标、严格筛选的图片信息，无论是初学者还是有经验的操作员，都能够轻松掌控！

可通过选项卡在测量及分析之间相互切换，画面简洁明了。

3D覆盖功能

能够将样品形貌及物理特性叠加显示，并能构画出3D画面，可以通过视觉感受表示样品的物理特性。

凹凸分析、剖面轮廓分析功能

配备凹凸分析、剖面轮廓分析等多样的分析功能。

小型化设计

轻便的小型化外形，适合各种场地摆放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg

技术参数