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AFM5500M

日立 全自动型原子力显微镜 AFM5500M

品牌名称:日立

产品型号:AFM5500M

产品规格
产品介绍
AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高,配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换,激光对中,测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。
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产品介绍
AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高,配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换,激光对中,测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且,通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。

 

产品特点

自动化功能

高度集成自动化功能追求高效率检测

降低检测中的人为操作误差

 

可靠性

排除机械原因造成的误差

大范围水平扫描
采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。
AFM5500M搭载了最新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。

高精角度测量
普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。
AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。

 

融合性

亲密融合其他检测分析方式

通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等。

通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。

石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差。

SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。

 

技术参数

AFM5500M   主机

马达台

自动精密马达台
  最大观察范围:100 mm (4英寸)全域
  马达台移动范围:XY ± 50 mm、Z ≥21 mm
  最小步距:XY 2 µm、Z 0.04  µm

最大样品尺寸

直径:100 mm(4英寸)、厚度:20   mm
  样品重量:2 kg

扫描范围

200   µm x 200 µm x 15 µm (XY:闭环控制   / Z:感应器监控)

RMS噪音水平*

0.04   nm 以下(高分辨率模式)

复位精度*

XY:   ≤15 nm(3σ、计量10  μm的标准间距)   / Z: ≤1 nm (3σ、计量100 nm 的标准深度)

XY直角度

±0.5°

BOW*

2   nm/50 µm 以下

检测方式

激光检测(低干涉光学系统)

光学显微镜

放大倍率:x1 ~ x7
  视野范围:910 µm x 650 µm ~ 130 µm   x 90 µm
  显示倍率:x465 ~ x3,255(27英寸显示器)

减震台

台式主动减震台 500 mm(W) x 600   mm (D) x 84 mm (H)、约28 kg

防音罩

750   mm(W) x 877 mm (D) x 1400 mm(H)、 约 237 kg

大小重量

400   mm(W) x 526 mm(D) x 550 mm(H)、约 90 kg

*参数与设备配置及放置环境相关。

AFM5500M   专用原子力显微镜工作站

OS

Windows7

RealTune®II

自动调节悬臂振幅、接触力、扫描速率以及信号反馈

操作画面

操作导航功能、多窗口显示功能(测试/分析)、3D图像叠加功能、扫描范围/测量履历显示功能、数据批处理分析功能、探针评估功能

X,   Y, Z扫描驱动电压

0~150 V

时时测试(像素点)

4画面(最大2,048 x 2,048)
  2画面(最大4,096 x 4,096)

长方形扫描

2:1、4:1、8:1、16:1、32:1、64:1、128:1、256:1、512:1、1,024:1

分析软件

3D显示功能、粗糙度分析、截面分析、平均截面分析

自动控制功能

自动更换悬臂、自动激光对中

大小重量

340   mm(W) x 503 mm(D) x 550 mm(H)、约 34 kg

电源

AC100   ~ 240 V ±10% 交流

测试模式

标配:AFM、DFM、PM(相位)、FFM 选配:SIS形貌、SIS物理特性、LM-FFM、VE-AFM、Adhesion、Current、Pico-Current、SSRM、PRM、KFM、EFM(AC)、EFM(DC)、MFM

*WINDOWS 是、美国 Microsoft Corporation 在美国及美国以外国家注册商标。

*RealTune是日立高新科学公司在日本、美国以及欧洲的注册商标。

选配项:SEM-AFM联用系统

可适用的日立SEM型号

SU8240、SU8230(H36 mm型)、SU8220(H29 mm型)

样品台大小

41   mm(W) x 28 mm(D) x  16 mm (H)

最大样品尺寸

Φ20   mm x 7 mm

对中精度

±10   µm (AFM对中精度)

 


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