产品介绍
AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高,配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换,激光对中,测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且,通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察・分析。
产品特点
自动化功能
高度集成自动化功能追求高效率检测
降低检测中的人为操作误差
可靠性
排除机械原因造成的误差
大范围水平扫描
采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。
AFM5500M搭载了最新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。
高精角度测量
普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。
AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。
融合性
亲密融合其他检测分析方式
通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察・分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等。
通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。
石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差。
SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。
技术参数
AFM5500M 主机 | |
马达台 | 自动精密马达台 |
最大样品尺寸 | 直径:100 mm(4英寸)、厚度:20 mm |
扫描范围 | 200 µm x 200 µm x 15 µm (XY:闭环控制 / Z:感应器监控) |
RMS噪音水平* | 0.04 nm 以下(高分辨率模式) |
复位精度* | XY: ≤15 nm(3σ、计量10 μm的标准间距) / Z: ≤1 nm (3σ、计量100 nm 的标准深度) |
XY直角度 | ±0.5° |
BOW* | 2 nm/50 µm 以下 |
检测方式 | 激光检测(低干涉光学系统) |
光学显微镜 | 放大倍率:x1 ~ x7 |
减震台 | 台式主动减震台 500 mm(W) x 600 mm (D) x 84 mm (H)、约28 kg |
防音罩 | 750 mm(W) x 877 mm (D) x 1400 mm(H)、 约 237 kg |
大小・重量 | 400 mm(W) x 526 mm(D) x 550 mm(H)、约 90 kg |
*参数与设备配置及放置环境相关。
AFM5500M 专用原子力显微镜工作站 | |
OS | Windows7 |
RealTune®II | 自动调节悬臂振幅、接触力、扫描速率以及信号反馈 |
操作画面 | 操作导航功能、多窗口显示功能(测试/分析)、3D图像叠加功能、扫描范围/测量履历显示功能、数据批处理分析功能、探针评估功能 |
X, Y, Z扫描驱动电压 | 0~150 V |
时时测试(像素点) | 4画面(最大2,048 x 2,048) |
长方形扫描 | 2:1、4:1、8:1、16:1、32:1、64:1、128:1、256:1、512:1、1,024:1 |
分析软件 | 3D显示功能、粗糙度分析、截面分析、平均截面分析 |
自动控制功能 | 自动更换悬臂、自动激光对中 |
大小・重量 | 340 mm(W) x 503 mm(D) x 550 mm(H)、约 34 kg |
电源 | AC100 ~ 240 V ±10% 交流 |
测试模式 | 标配:AFM、DFM、PM(相位)、FFM 选配:SIS形貌、SIS物理特性、LM-FFM、VE-AFM、Adhesion、Current、Pico-Current、SSRM、PRM、KFM、EFM(AC)、EFM(DC)、MFM |
*WINDOWS 是、美国 Microsoft Corporation 在美国及美国以外国家注册商标。
*RealTune是日立高新科学公司在日本、美国以及欧洲的注册商标。
选配项:SEM-AFM联用系统 | |
可适用的日立SEM型号 | SU8240、SU8230(H36 mm型)、SU8220(H29 mm型) |
样品台大小 | 41 mm(W) x 28 mm(D) x 16 mm (H) |
最大样品尺寸 | Φ20 mm x 7 mm |
对中精度 | ±10 µm (AFM对中精度) |