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AFM5100N

日立 通用型原子力显微镜 AFM5100N

品牌名称：日立

产品型号：AFM5100N

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产品介绍
AFM5100N除了激光检测方式之外，全新的「自检测悬臂」，在保证高分辨表面形貌观察的同时，大大简化了AFM悬臂操作。
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产品介绍
AFM5100N除了激光检测方式之外，全新的「自检测悬臂」，在保证高分辨表面形貌观察的同时，大大简化了AFM悬臂操作。

 

产品特点

简便的悬臂安装

通常的悬臂是非常渺小而且很难操作，内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多，容易拿取，安装非常简单方便。

 

不用调整激光光斑的自检测方式

激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置，操作复杂，而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。

 

精确的悬臂定位

悬臂的机械结构，能够以俯视方式直接观察悬臂的位置，从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外，更加尖锐的探针提高了分辨率。

 

方便的操作导航系统

通过流程图形式的导航系统，任何人都可以轻松地进行高分辨表面测量。另外，通过设定样品的软硬度和凹凸系数等参数，能够简单确定测量条件。

 

紧凑的主机

主机上包含减震台、隔音罩、光学显微镜等附件，安装紧凑，体积小巧。

 

优越的扩展功能

通过激光检测方式，能够扩展各种各样的选配功能。另外，只要插拔一根电缆就能够切换成激光检测方式。

 

技术参数

检测方式

激光检测方式/自检测方式

样品尺寸

最大35   mmφ、厚度10 mm（专用配件厚度扩展至20 mm）

扫描范围

20   µm/1.5 µmH（水平/垂直）

100   µm/15 µmH

150   µm/5 µmH

110   µm/6 µmH（闭环差控制）

定位显微镜

搭载CCD的

变焦显微镜

光学显微镜

金相显微镜 （可以选配）

减震方式

台式减震台

落地式减震台（可以选配）

操作画面

搭载流程图的操作导航系统

检测功能

DFM（dynamic force mode）

CURRENT、SSRM、SNDM、PRM、KFM

PM（相位模式）   （可以选配）

扩展功能

AFM、STM、SIS、FFM、LM-FFM、VE-AFM/DFM、Adhision、CURRENT、KFM、PRM、SNDM、SSRM、EFM、MFM

 


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