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沈阳科晶
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9J

沈阳科晶 光切法显微镜 9J

品牌名称：沈阳科晶

产品型号：9J

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产品介绍
9J光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度，能判国家标准GB 1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度（表面粗糙度12.5-0.2），对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可进行测量。
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产品介绍

9J光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度，能判国家标准GB 1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度（表面粗糙度12.5-0.2），对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可进行测量。光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的，是一种间接测量方法，即需经过计算后才能确定纹痕的不平度。

 

技术参数

测量范围不平度平均高度值（µm）

>0.8-1.6

>1.6-6.3

>6.3-20

>20-80

表面光洁度（▽）

9

8-7

6-5

4-3

所需物镜

60×/0.55

30×/0.40

14×/0.20

7×/0.12

总放大倍数

510×

260×

120×

60×

物镜组件工作距离（mm）

0.04

0.2

2.5

9.5

视场（mm）

0.3

0.6

1.3

2.5

摄影装置放大倍数

约6倍

不平宽度

用测微目镜0.7µm-2.5mm

测量不平度范围

0.8µm-80µm

用坐标工作台0.01mm-13mm

产品规格

尺寸：180mm×290mm×470mm；重量：23kg

 

标准配件

测微目镜

1只

坐标工作台

1件

V型块

1件

标准刻尺（连盒）

1件

物镜（7×、14×、30×、60×）

各1组

 


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