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TIV-S32

沈阳科晶 32工位高通量光学硬度仪 TIV-S32

品牌名称:沈阳科晶

产品型号:TIV-S32

产品规格
产品介绍
TIV-S32是一款高通量光学硬度仪,可一次检测32个样品,缩短整个测试实验周期。
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产品介绍

TIV-S32是一款高通量光学硬度仪,可一次检测32个样品,缩短整个测试实验周期。该系统主要由便携式光学硬度仪、二轴运动平台以及32工位样品台三部分组成,利用TIV方法进行硬度测量,能够直接、快速、精确的测量样品的硬度,无需额外的材料校准。此设备特别适合于采用高通量方法进行新型金属合金、涂料、硬质材料涂层、合成薄膜(PVD、CVD)、电镀涂层(装饰或功能涂层)、医疗生物等领域的硬度研究。

 

技术参数

产品名称

TIV-S3232工位高通量光学硬度仪

产品型号

TIV-S32

TIV光学硬度仪

·便携式TIV光学硬度计包括:
  1个触摸屏
  1个负载10N的探头,用于测量30HV~500HV的样品
  可选配负载50N的探头进行100HV~1000HV样品的硬度测量
  ·采用TIV方法进行维式硬度测量,不需对不同材料的杨氏模量进行校准
  ·压痕对角线长度利用CCD摄像机系统自动成像,并且自动分析得到样品硬度
  ·测量的维氏硬度可自动换算为HB、HS、HRC和N/mm2硬度制
  ·探针采用10N负载,测量范围在30HV~500HV之间

二轴运动平台

·触摸屏显示控制,操作方便
  ·检测时间(转换工位停留时间)、X-Y轴移动速度、结束工位等参数可调,实现自动换样(图1、2)
  ·搭配32工位样品台可进行高通量材料成分检测
 
 

32工位样品台

·样品可放置于32工位样品台上
  ·样品台与二轴运动平台搭配使用,实现高通量材料成分检测(如下图)

样品要求

·样品厚度>0.5mm;样品直径>2mm;样品重量不限;样品表面粗糙度<Ra 3.2μm
  ·对于高通量的样品制备,可选购本公司16工位自动抛光Unipol-1500-S16

产品尺寸

1000×800×1000mm

产品质量

120kg

质量认证

CE认证

质保期

一年保质期,终生维护

 


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