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EQ-TM106

沈阳科晶 膜厚监测仪 EQ-TM106

品牌名称:沈阳科晶

产品型号:EQ-TM106

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产品介绍
EQ-TM106膜厚监测仪是采用石英晶体振荡原理,结合先进的频率测量技术,进行膜厚的在线监测。
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产品介绍

EQ-TM106膜厚监测仪是采用石英晶体振荡原理,结合先进的频率测量技术,进行膜厚的在线监测。主要应用于MBE、OLED热蒸发、磁控溅射等设备的薄膜制备过程中,用于对膜层厚度及镀膜速率进行实时监测。EQ-TM106膜厚监测仪根据制备薄膜的实时速率可以输出PWM(脉冲宽度调制)模拟量,作为膜厚传感器使用,与调节仪和蒸发电源配合实现蒸发源的闭环速率控制,从而检测所制备薄膜的厚度。EQ-TM106膜厚监测仪体积小巧可节省实验室空间,原理简单,操作方便,尤其适合于实验室中薄膜制备过程的使用。 

 

产品特点

  • 本机可与计算机连接。

  • 显示仪具有界面简洁、直观、合理、操作方便快捷等优点,可直观显示所测的膜厚、速率、频率、PWM控制输出的百分比等工作状态。

  • 通过软件或显示仪可对门控时间、输出方式、速率算法、材料参数、输出量程及通讯参数等进行设置,并可将所测相关数据写入Excel文件。

  • 具有体积超小、测量精度高、操作简单、使用方便等优点。

 

技术参数

EQ-TM106-1监测组件

电源

DC  5V(±10%),最大电流400mA

频率分辨率

±0.03Hz

膜厚分辨率

0.0136Å(铝)

膜厚准确度

±0.5%,取决于过程条件,特别是传感器的位置,材料应力,温度和密度

测量速度

100ms-1s/次,可设置

测量范围

500000Å(铝)

标准传感器晶体

6MHz

计算机接口

RS-232/485串行接口(波特率1200、2400、4800、9600、19200、38400可设置,数据位:8,停止位:1,校验:无)

模拟输出

8比特分辨率,PWM脉宽调制输出(集电极开路或内部5V输出)

工作环境

温度0-50℃,湿度5%-85%RH,不得有冷凝水珠

外形尺寸

90mm×50mm×18mm

EQ-TM106-2显示仪

输入电源

AC   220V±10%

输出电源

DC  5V    3A

显示器

12×2数码管与LED

通讯端口

RS-485(波特率1200、2400、4800、9600、19200、38400可设置,数据位:8位,停止位:1位,奇偶校验:无)

外形尺寸

182mm×65mm×160mm

EQ-TM106-3探头

适用晶片频率

6MHz

适用晶片尺寸

Ø14mm

安装法兰

CF35

冷却水管

Ø3mm,长度300mm、500mm、1000mm

冷却水压

<0.3MPa

气动挡板路管

Ø3mm

压缩空气压力

<0.8mpa,>0.5MPa

烘烤温度

通水状态<200℃,不通水状态法兰<100℃

电气接口

BCN插座

 

标准配件

EQ-TM106-1监测组件

1个

EQ-TM106-2显示仪

1台

EQ-TM106-3探头

1个

 


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